半導體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

半導體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

一、產(chǎn)品特點：
測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數(shù)測試全、速度快、有良好的重復性和一致性、工作穩(wěn)定，具有保護系統(tǒng)和被測器件的能力。測試儀由計算機操控，測試數(shù)據(jù)可存儲打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能（圖示儀功能）。系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定、硬件故障率低，在實際測試應用中各項技術指標均可達到器件手冊技術指標及國標要求。

半導體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

二、測試參數(shù)
1． 二極管
VF、IR、BVR
2． 穩(wěn)壓（齊納）二極管
VF、IR、BV Z
3． 晶體管 Transistor（NPN型/PNP型）
VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4． 可控硅整流器（晶閘管）
IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5． 場效應管
IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
6． 光電耦合器
VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
*7．三端穩(wěn)壓器
VO、SV、ID、IDV
被測器件圖形
三、測試參數(shù)范圍
晶體管
測試參數(shù)
測試范圍
ICEO
ICBO
IEBO
1nA-100nA
100nA-1uA
1uA-100uA
100uA-10mA
VCE(sat)
VBE(sat)
0.10V-30V
VBE(VBE(on))
0.10V-30V
hFE
1－99999
V(BR)EBO
0.10V-30V
V(BR)CEO
V(BR)CBO
0. 10V-50V
50V-1499V
二極管
測試參數(shù)
測試范圍
IR
1nA-100nA
100nA-1uA
1uA-100uA
100uA-10mA
VF
0.10V-30V
V(BR)
1V-50V
50V-1499V
穩(wěn)壓二極管
測試參數(shù)
測試范圍
IR
1nA-100nA
100nA-1uA
1uA-100uA
100uA-10mA
VF
0.10V-30V
VZ
0.10V-50V
三端穩(wěn)壓器